Hafta | Teori Konu Başlıkları |
---|---|
1 | Yüzey analizine giriş: Malzemelerin yapıları ve optik, elektronik, kimyasal, mekaniksel özelliklerinin arasındaki ilişkilerin tanımlanması; elektronların, iyon ve fotonların malzeme ile etkileşimlerinin temel prensipleri, temel enstrümanlar |
2 | Vakum teknolojisi ve yüzey analizlerindeki önemi |
3 | X-ışını Difraktometresi (XRF), X-ışını Spektroskopisi (XRD) |
4 | X-ışını Foto-elektron Spektroskopisi (XPS) |
5 | Auger Elektron Spektroskopisi (AES), Morötesi Fotoelektron Spektroskopisi (UPS) |
6 | Taramalı Elektron Mikroskopisi (SEM), Alan Emisyonlu Taramalı Elektron Mikroskopisi (FESEM), Geçirimli Elektron Mikroskopisi (TEM) |
7 | Ara Sınav Haftası |
8 | Kütle Spektroskopisi, İkincil iyon kütle spektroskopisi (SIMS) |
9 | Atomik kuvvet mikroskopisi (AFM), Taramalı tünelleme mikroskopisi (STM) |
10 | İndüktif olarak eşleşmiş plazma optik emisyon spektroskopisi (ICP-OES) |
11 | İndüktif eşleşmiş plazma atomik emisyon spektroskopisi (ICP-AES) |
12 | İndüktif Eşleşmiş Plazma Kütle Spektroskopisi (ICP-MS) |
13 | Elektron Mikro Prob Analiz (EPMA) |
14 | Spektroskopik ve Mikroskopik Analiz Yöntemlerinin Karşılaştırılması |