| 1 |
Yüzey analizine giriş: Malzemelerin yapıları ve optik, elektronik, kimyasal, mekaniksel özelliklerinin arasındaki ilişkilerin tanımlanması; elektronların, iyon ve fotonların malzeme ile etkileşimlerinin temel prensipleri, temel enstrümanlar |
| 2 |
Vakum teknolojisi ve yüzey analizlerindeki önemi |
| 3 |
X-ışını Difraktometresi (XRF), X-ışını Spektroskopisi (XRD) |
| 4 |
X-ışını Foto-elektron Spektroskopisi (XPS) |
| 5 |
Auger Elektron Spektroskopisi (AES), Morötesi Fotoelektron Spektroskopisi (UPS) |
| 6 |
Taramalı Elektron Mikroskopisi (SEM), Alan Emisyonlu Taramalı Elektron Mikroskopisi (FESEM), Geçirimli Elektron Mikroskopisi (TEM) |
| 7 |
Ara Sınav Haftası |
| 8 |
Kütle Spektroskopisi, İkincil iyon kütle spektroskopisi (SIMS) |
| 9 |
Atomik kuvvet mikroskopisi (AFM), Taramalı tünelleme mikroskopisi (STM) |
| 10 |
İndüktif olarak eşleşmiş plazma optik emisyon spektroskopisi (ICP-OES) |
| 11 |
İndüktif eşleşmiş plazma atomik emisyon spektroskopisi (ICP-AES) |
| 12 |
İndüktif Eşleşmiş Plazma Kütle Spektroskopisi (ICP-MS) |
| 13 |
Elektron Mikro Prob Analiz (EPMA) |
| 14 |
Spektroskopik ve Mikroskopik Analiz Yöntemlerinin Karşılaştırılması |
