Materyal (malzeme) yapısı ve özellikleri arasındaki ilişkinin tanımlanması, vakum sistemininyüzey analizlerindeki önemi, spektroskopik elementel analiz türleri ve mikroskopik elementel analiz türlerinin öğrenilmesi, bu yöntemlerin çalışma prensipleri, spektroskopik ve mikroskopik elementel analiz türlerinin karşılaştırılması amaçlanmaktadır.

Yüzey analizine giriş: Malzemelerin yapıları ve optik, elektronik, kimyasal, mekaniksel özelliklerinin arasındaki ilişkilerin tanımlanması; elektronların, iyon ve fotonların malzeme ile etkileşimlerinin temel prensipleri, temel enstrümanlar;Vakum teknolojisi ve yüzey analizlerindeki önemi;X-ışını Difraktometresi (XRF), X-ışını Spektrometresi (XRD);X-ışını Fotoelektron Spektrometresi (XPS);Auger Elektron Spektroskopi (AES), Morötesi Fotoelektron Spektroskopisi (UPS), Kütle Spektroskopisi, İkincil iyon kütle spektroskopisi (SIMS);Taramalı Elektron Mikroskobu(SEM), Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM);Atomik kuvvet mikroskobisi (AFM), Taramalı tünelleme mikroskopisi (STM); İndüktif olarak eşleşmiş plazma optik emisyon spektrometresi (ICP-OES); İndüktif eşleşmiş plazma atomik emisyon spektroskopisi (ICP-AES);İndüktif Eşleşmiş Plazma Kütle Spektrometre (ICP-MS);Elektron Mikro Prob Analiz (EPMA);Spektroskopik ve Mikroskopik Analiz Yöntemlerinin Karşılaştırılması.

Sunum, Anlatım, Soru-cevap ve Uygulama

1. "Handbook of Spectroscopy: Second, Enlarged Edition", Günter Gauglitz, David S. Moore, (204), Print ISBN:9783527321506 2. "Elemental Analysis", Pavan M. V. Raja & Andrew R. Barron, (2019), Sourced from OpenStax CNX 3. "Elemental Analysis-An Introduction to Modern Spectrometric Techniques", Schlemmer, G., Balcaen, L., Todolí, José L., Hinds, M., (2019), ISBN 978-3-11-050108-7 4. "Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis", J.I.Goldstein, et.al, Plenum Press, New York, 1981 5. "Elements of X-Ray Diffraction", B.D.Cullity, Addison-Wesley Publishers, 1978 6. "Practical hanbook of spectroscopy", edited by J.W. Robinson, CRC press 1991 7. "Principles of Instrumental Analysis” 5th Ed., .D.A.Skoog, F.J.Holler, T.A.Nieman, Saunders College Publishers, Philadelphia, 1998, Çeviri Ed.: Esma Kılıç, Bilim Yayıncılık, Ankara. 8. “Surface Analysis”, J.C.Vickerman, JOHN WILEY&SONS 2004, ISBN:0471972924