FEN EĞİTİMİNDE ÖZEL FİZİK KONULARI I

İzlence Formu

Ders Adı FEN EĞİTİMİNDE ÖZEL FİZİK KONULARI I Kod FBED9030
Kredi 3 AKTS 6
Z/S Seçmeli Teorik Saat 3
Uygulama Saat 0 Lab Saat 0
Ders Dili Türkçe Dersi Veren Prof. Dr. ÖMER ÇAKIROĞLU
Dersin Veriliş Türü

Dersin Amacı

Öğrencilere, fiziğin teknolojideki yeri, teknolojik gelişmelere katkısı anlatılacaktır. Malzeme teknolojisinin temelini fizik çalışmaları teşkil ettiği vurgulanacaktır. Bu bazda üretilen teknojik aletlerin önemi ve kullanım alanlarını hakkında öğrenciler bilgi sahibi olmaları planlanmıştır.

İçerik

Fen Eğitiminde Özel Fizik Konular: Bu tersin temeli 19. Ve 20. Yüz Yılda, fizikteki gelişmeler baz alınarak, geliştirilen malzemelrin teknolojideki yeri, uygulamalarıdır. Günümüz elektronik teknolojisinin temel malzemesi olan yarıiletkenler, yarıiletkenlere dayaılı malzemeler ve kullanım alanları. Fiziğin yeni bir dalı gibi düşünülen süperiletkenler ve bu alana dayalı olarak geliştirilen malzemele ve kullanımları. Haberleşmede kullanılan yarıiletken malzemeler. Görüntülemede kullanılan aletler; : Ultrason, NMR, Tomografi, Sintilasyon, Elektron ve tarama mikroskopları. Nanomateryeller ve nanoteknoloji hakkında öğrencilerin bilgilendirilmesi planlanmıştır.

Öğretim Yöntemleri

Teorik, uygulama,gezi, araştırma, ödev, tartışma, örnek makale incelemeleri, sunumlar, projeler.

Kaynaklar

1.Mehmet Fatih TAŞAR, Pegam Yayınevi 2.Charles-Kittel, Introduction to Solid-Physics 3.S.O.Kasap, Principles of Electronic Materials and Devices 4.Simon M. Sze and Ming-Kwei Lee, Semiconductor Devices: Physics and Technology, 2012 5.David B. Williams and C. Barry Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science , 2009) 6.W. Buckel, Reinhold Kleiner, Superconductivity, 2008 7.Arnold Spinks, Guide to Superconductivity Books, 2002 8.Charles P. Poole Jr., Horacio A. Farach, Richard J. Creswick, Ruslan Prozorov, Superconductivity, 2010 9.Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, J.R. Michael. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, 2003

Bilgi İşlem Daire Başkanlığı © 2024